鹵化物鈣鈦礦光伏器件中埋底界面應(yīng)變的識別和研究對于指導(dǎo)鈣鈦礦太陽能電池的性能和穩(wěn)定性研究至關(guān)重要。鑒于此,2022年2月9日埃爾朗根-紐倫堡大學(xué)Ning Li&Christoph J. Brabec團隊于Joule刊發(fā)揭示影響鈣鈦礦太陽能電池性能和穩(wěn)定性的應(yīng)變的相關(guān)物理機制的研究成果。在這項工作中,發(fā)現(xiàn)在300 nm的鈣鈦礦層厚度上,由界面應(yīng)變引起的帶隙漸變高達60 meV。這種分級帶隙是合乎需要的,因為它涉及器件工程方面。然而,與此同時,增加的缺陷密度會導(dǎo)致埋底界面處的電荷復(fù)合。這兩種效果相互補償,導(dǎo)致在標準1個太陽光照下的整體性能提升。然而,在低光強度下可以清楚地觀察到缺陷密度增加的缺點,其中器件性能受電荷復(fù)合和離子遷移的支配。此外,事實證明,應(yīng)變界面會導(dǎo)致缺陷密度增加,從而在光照和黑暗條件下顯著加速器件退化。
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